儀器型號(hào)：LJD-B型 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀生產(chǎn)廠(chǎng)家

一、簡(jiǎn)介：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀生產(chǎn)廠(chǎng)家

LJD-B型 絕緣材料介電常數(shù)測(cè)試儀 由S916測(cè)試裝置（夾具）、LJD-B/C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入LJD-B或LJD-C的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。使用LJD-B或LJD-C數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

LJD-C介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：

二、主機(jī)：LJD-B/C 高頻Q表

S916（數(shù)顯）或S914介電常數(shù)ε_r和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：

固體：材料測(cè)量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm （二選一）  

液體：測(cè)量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

三、LKI-1電感組

注意: 可定制100MHz電感.  

 LKI-1電感組是測(cè)試作輔助用的，它含有9個(gè)屏蔽罩屏蔽的電感。這些電感具有較高的Q值，各電感的電感量等數(shù)據(jù)如附表一。

附表一  LKI-1電感組，LJD-B/LJD-C選配電感

上述Q值是在BQG-2標(biāo)準(zhǔn)線(xiàn)圈為基準(zhǔn)比較測(cè)得，電感值未扣除主機(jī)的殘余電感.，LJD-B殘余電感為0.025μH。

主機(jī)是根據(jù)串聯(lián)諧振和電壓比值原理工作的，主機(jī)的指示Q值是包括被測(cè)件的有效Q值及測(cè)試回路固有殘量在內(nèi)的整個(gè)諧振回路有效Q值，必須用主機(jī)測(cè)試回路殘量修正主機(jī)的指示Q值，這是主機(jī)測(cè)量的一個(gè)重要特點(diǎn)。

在一般情況下，主機(jī)作為低精度儀器使用或利用主機(jī)對(duì)線(xiàn)圈作比較測(cè)量時(shí)，可不必對(duì)殘量的影響進(jìn)行修正。

主機(jī)的Q值測(cè)量誤差可按Q值參考標(biāo)準(zhǔn)不同分為二類(lèi)。

我廠(chǎng)采用的一種是以主機(jī)生產(chǎn)廠(chǎng)家所提供并經(jīng)計(jì)量部門(mén)審核的均值回路標(biāo)準(zhǔn)指示值Qen為參考標(biāo)準(zhǔn)，主機(jī)指示Q值Qi的相對(duì)誤差由下式表示：

δQi=[(Qi-Qen)÷Qen]× 100％

式中Qi為標(biāo)有Qen值標(biāo)準(zhǔn)量具在主機(jī)上的實(shí)際指示值。

注：修正系數(shù)主要用于用戶(hù)測(cè)量一個(gè)器件Q值時(shí)，根據(jù)指示的

Qi值換算出較準(zhǔn)礎(chǔ)的Q值。

附表二    各Q值均值回路指示值

            和測(cè)試回路平均殘量修正系數(shù)表

Qe：標(biāo)準(zhǔn)有效Q值

LJD-B型主機(jī)在測(cè)試Q值時(shí)，已對(duì)測(cè)試回路的殘量作了修正，故不再需要對(duì)Q值進(jìn)行均值修正。

七、產(chǎn)品的交收檢驗(yàn)

1．檢驗(yàn)環(huán)境要求

a．環(huán)境溫度：20℃±2℃，相對(duì)濕度<50％；

b．供電電源：220V±10V，50Hz±1Hz；

c．被檢設(shè)備要預(yù)熱30分鐘以上。

2．檢驗(yàn)設(shè)備要求

a. 設(shè)備應(yīng)在計(jì)量后的有效使用期內(nèi)；

b. 檢驗(yàn)設(shè)備應(yīng)按儀器規(guī)定預(yù)熱。

b．從后面板的頻率監(jiān)測(cè)端用BNC電纜連至頻率計(jì)數(shù)器輸入端；

3．Q值指示檢驗(yàn)

a．檢驗(yàn)設(shè)備：BQG-2標(biāo)準(zhǔn)線(xiàn)圈一套；

b．把標(biāo)準(zhǔn)Q值線(xiàn)圈接入LJD-B/LJD-C主機(jī)電感接線(xiàn)柱上；

c．選擇標(biāo)準(zhǔn)Q值線(xiàn)圈所規(guī)定的檢定頻率；

d．LJD-B/LJD-C主機(jī)的Q值讀數(shù)的相對(duì)誤差應(yīng)符合二.1.C條中的固有誤差之規(guī)定。

4．調(diào)諧電容器準(zhǔn)確度檢驗(yàn)

a. 測(cè)試時(shí)如發(fā)現(xiàn)干擾，應(yīng)斷開(kāi)內(nèi)部信號(hào)源；

b．設(shè)備連接如圖十所示，連接線(xiàn)應(yīng)盡量短，盡可能減小分布電容；

c．電容測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

   測(cè)試范圍：10-550pF，±5pF； 測(cè)試精度：10-550pF±0.1％

   如果使用LCR電橋測(cè)試，應(yīng)保證電橋與被測(cè)主機(jī)之間地線(xiàn)和外殼的絕緣隔離。

d．調(diào)諧電容器顯示的指示值與電容測(cè)試儀指示值之間誤差應(yīng)符合二.3條的規(guī)定。

5．頻率指示誤差檢驗(yàn)

a．設(shè)備連接如圖十一所示：

c．頻率計(jì)數(shù)器技術(shù)要求

   測(cè)量范圍：10Hz-1000MHz；

   測(cè)量誤差：<1×10-6；

   測(cè)量靈敏度：<30mV。

d．測(cè)試線(xiàn)要求：高頻電纜SYV-50-3；

e．主機(jī)頻率指示值與頻率計(jì)數(shù)器讀數(shù)值間的誤差應(yīng)符合二.4條的規(guī)定。

附：貼片元件測(cè)試夾具使用方法

當(dāng)采用我公司生產(chǎn)的LJD-B及LJD-C主機(jī)及配上相應(yīng)的貼片元件測(cè)試夾具時(shí)可對(duì)貼片電容及貼片電感進(jìn)行電容量、電感量及Q值、tgδ值的測(cè)量，測(cè)量時(shí)只要將測(cè)試夾具接入相應(yīng)的Lx或Cx接線(xiàn)柱內(nèi)，然后按說(shuō)明書(shū)中“3”高頻線(xiàn)圈電感值的測(cè)量及“5”電容器電容量的測(cè)量方法進(jìn)行測(cè)量。

注意：因貼片元件尺寸較小，規(guī)格又不盡相同，因此放入夾具時(shí)應(yīng)保持盡量居中并保證接觸良好。

在測(cè)量小電感時(shí)，為了測(cè)試值的正確性，測(cè)得的讀數(shù)應(yīng)減去儀器的測(cè)試回路的剩余電感值，LJD-B約26nH，LJD-C約7nH（包括測(cè)試夾具）。直接采用本儀器新增的自身殘余電感和測(cè)試引線(xiàn)電感的扣除功能，能獲得佳的測(cè)試精度。